國巨(YAGEO)作為全球領先的電子元件供應商，其貼片電感(SMD Inductor)廣泛應用于通信、汽車電子、工業(yè)控制等領域。耐高溫性能是評估電感可靠性的核心指標，直接影響電路在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性。本文結合行業(yè)測試標準與國巨產(chǎn)品特性，今天昂洋科技系統(tǒng)闡述貼片電感耐高溫性能的測試方法，包括測試原理、設備選型、操作流程及數(shù)據(jù)分析，為工程師提供科學、高效的測試方案。

一、耐高溫性能測試的重要性

貼片電感在高溫環(huán)境下可能出現(xiàn)磁芯飽和、線圈絕緣失效、感值漂移等問題，導致電路性能下降甚至失效。根據(jù)MIL-STD-202G標準，電感在高溫儲存(155℃±2℃/96小時)后，感值變化需≤10%，品質(zhì)因數(shù)(Q值)變化需≤30%。國巨電感通過優(yōu)化磁芯材料與封裝工藝，在耐高溫性能上表現(xiàn)優(yōu)異，但仍需通過嚴格測試驗證其可靠性。

二、測試原理與設備選型

1. 測試原理

耐高溫測試通過模擬電感在高溫環(huán)境下的長期工作狀態(tài)，評估其電氣參數(shù)與物理結構的穩(wěn)定性。測試需關注以下參數(shù)：

感值（L）：反映電感對電流變化的響應能力。

品質(zhì)因數(shù)（Q）：衡量電感能量損耗與儲能效率。

直流電阻（DCR）：表征線圈的導電性能。

外觀缺陷：如開裂、變形、漏液等。

2. 設備選型

高低溫試驗箱：需具備溫度控制精度±1℃、升溫速率≥5℃/min、溫度均勻性≤±2℃。

LCR電橋：如Agilent 4284A，支持1kHz~1MHz頻率測試，感值精度±0.05%。

顯微鏡/光學測量儀：用于觀察電感外觀缺陷。

數(shù)據(jù)記錄儀：實時記錄溫度、時間與測試數(shù)據(jù)。

三、測試流程與操作規(guī)范

1. 樣品準備

抽樣標準：按GB/T 2828.1-2012標準，從同一批次中隨機抽取樣品，數(shù)量≥10只。

預處理：在常溫下測量初始感值、Q值與DCR，作為基準數(shù)據(jù)。

封裝檢查：確保樣品無機械損傷，封裝材料無氣泡、裂紋。

2. 高溫儲存測試

步驟：

將樣品置于高低溫試驗箱，以5℃/min速率升溫至155℃±2℃。

恒溫保持96小時，期間每24小時記錄一次溫度與時間。

自然冷卻至室溫后，測量感值、Q值與DCR。

判定標準：

感值變化≤±10%。

Q值變化≤±30%。

DCR變化≤±10%。

外觀無可見缺陷。

3. 高溫工作測試（可選）

步驟：

將樣品接入測試電路，施加額定電流(如100mA)。

在155℃±2℃環(huán)境下連續(xù)工作24小時。

測量感值、DCR及溫升(使用熱成像儀)。

判定標準：

感值漂移≤±5%。

DCR變化≤±5%。

溫升≤40℃(感量下降20%對應的臨界溫升)。

國巨貼片電感的耐高溫性能測試需結合標準規(guī)范與產(chǎn)品特性，通過科學的方法與先進的設備，確保測試結果的準確性與可靠性。未來，隨著材料科學與測試技術的進步，電感的耐溫性能將進一步提升，為極端環(huán)境下的電子設備提供更可靠的保障。